De theoretische basis van de methode van Tolansky voor het meten van dikten von dunne lagen

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lammers, D. W. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Webers, E. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Leidschendam Dr. Neher Laboratorium 1968
Schriftenreihe:Verslag / Staatsbedrijf der Posterijen, Telegrafie en Telefonie NL 245
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