The application of the impedance method for transcient void fraction measurement and comparison with the [gamma]-ray attenuation technique

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Wamsteker, A. J. J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Spigt, C. L. (VerfasserIn), Vlaardingen, H. F. van (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Brussels EURATOM 1965
Schriftenreihe:	EUR 2030.e
Schlagworte:
Online Zugang:	Freie elektronische Version
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