Untersuchung der mechanischen Eigenschaften von Kupfer-Dünnschichten mit röntgenographischen Spannungsmeßmethoden

Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kretschmann, André (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Stuttgart Max-Planck-Inst. f. Metallforschung 1997
Schriftenreihe:	Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung 53
Schlagworte:	Hochschulschrift > Forschungsbericht > Kupfer > Dünne Schicht > Mechanische Eigenschaft
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997
Beschreibung:	VII, 270 S., Anh Ill., graph. Darst