Analyse der MOTIF-Methode zur Beschreibung von Rauheit und Welligkeit technischer Oberflächen

Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 1997

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hartmann, Torsten (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1997
Schlagworte:	Hochschulschrift > DIN ISO 12085
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 1997
Beschreibung:	141 S. graph. Darst.