Fourteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium March 10 - 12, 1998, Holiday Inn, San Diego, CA, USA ; [proceedings]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Lee, Seri (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE Service Center 1998
Schlagworte:	Konferenzschrift > Erwärmung > Kühlung > Halbleiterschaltung > Temperaturmessung
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