A study on the Si(111)[root]3x[root]3-Ag surface structure by X-ray diffraction

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Takahashi, Toshio (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Tokyo Inst. for Solid State Physics, Univ. 1988
Schriftenreihe:	Technical report of ISSP. Series A 1931
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