Atom-probe field ion microscopy and its applications (review) Pt. I

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Sakurai, Toshio (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Sakai, Akira (VerfasserIn), Pickering, Howard W. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Tokio Inst. for Solid State Physics 1988
Schriftenreihe:	Technical report of ISSP Series A 1904
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