Surface structure analysis of Si(111)√3x√3-Bi by X-ray diffraction approach to the solution of the phase problem

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Takahashi, Toshio (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Tokyo Institute for Solid State Physics, University of Tokyo 1987
Schriftenreihe:	Technical report of ISSP Series A 1831
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