Proceedings of the 2nd Seminar on Quantitative Microscopy geometrical measurements in the micro- and nanometre range with far and near field methods ; on 6th and 7th November 1997 in Wien, Austria

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Seminar on Quantitative Microscopy (VerfasserIn), Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Fertigungsmesstechnik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Hasche, Klaus (BerichterstatterIn), Mirande, Werner (BerichterstatterIn), Wilkening, Günter (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss. 1997
Schriftenreihe:	PTB-Bericht Fertigungsmesstechnik 30
Schlagworte:	Konferenzschrift > Forschungsbericht > Quantitative Mikroskopie > Kalibrieren > Rastersondenmikroskopie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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