Automatic inspection and novel instrumentation

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Conference on Automatic Inspection and Novel Instrumentation (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Ho, Anthony T. S. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 3185
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Beschreibung
Beschreibung:VII, 170 S
ISBN:0819426121
0-8194-2612-1