A unified approach for timing verification and delay fault testing

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Sivaraman, Mukund (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Strojwas, Andrzej J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer 1998
Schlagworte:	Digital integrated circuits > Design and construction > Testing > Delay faults (Semiconductors) > Integrated circuits > Verification > Electric fault location > Digitale integrierte Schaltung > Entwurfsautomation > Prüftechnik
Online Zugang:	Publisher description Table of contents only
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