Thirteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium January 28 - 30, 1997, Four Seasons Hotel, Austin, TX, USA ; [proceedings]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society (BerichterstatterIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Tarter, Tjomas S. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE Service Center 1997
Schlagworte:	Konferenzschrift > Erwärmung > Kühlung
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