The certification of a reference material for the determination of oxygen in semiconductor silicon by infra-red spectrometry CRM 369 ; report
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| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Luxembourg
Commission of the European Communities
1990
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| Schriftenreihe: | EUR
12928 |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | Free electronic version |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | VII, 54 S graph. Darst |
|---|---|
| ISBN: | 9282625265 92-826-2526-5 |