Characterization of the local layer structure of a broad wall in a surface stabilized ferroelectric liquid crystal using synchrotron x-ray micro-diffraction

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Iida, A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Noma, T. (VerfasserIn), Miyata, H. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ibaraki National Laboratory for High Energy Physics 1995
Schriftenreihe:	KEK Preprint 95-155
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