Generation of fault tests for linear logic networks

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Breuer, M. A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY Electrical Engineering Dep., Univ. of Southern Calif 1969
Schriftenreihe:	[IEEE Computer Group repository papers] R-70-9
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