Measurement techniques for thin films [Symposium on "Measurement of Thin Films" on Oct. 11, 1965 at the National Meeting at Buffalo, N.Y., Symposium on Oct. 10-11, 1966 at the Society National Meeting in Philadelphia, Pa.]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Electrochemical Society Electronics Division (BerichterstatterIn), Electrochemical Society Dielectrics and Insulation Division (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Schwartz, Bertram (HerausgeberIn), Schwartz, Newton (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY u.a. Johnson 1968
Ausgabe:	[Nachdr. der Ausg. New York 1957]
Schlagworte:	Konferenzschrift
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