Ab initio Berechnung der (110) Oberfläche von III-V Halbleitern Simulation von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen

Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Engels, Benedikt Friedrich (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1996
Schlagworte:	Forschungsbericht > Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996
Beschreibung:	Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3215
Beschreibung:	VIII, 179 S Ill., graph. Darst