Three-dimensional imaging and laser-based systems for metrology and inspection II 20-21 November 1996, Boston, Massachusetts

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 2909
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!