Three-dimensional imaging and laser-based systems for metrology and inspection II 20-21 November 1996, Boston, Massachusetts

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 2909
Schlagworte:	Konferenzschrift
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