High-level test synthesis of digital VLSI circuits

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Lee, Mike Tien-Chien (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston u.a. Artech House 1997
Schriftenreihe:	The Artech House solid-state technology library
Schlagworte:	VLSI > Integrierte Schaltung > Test
Online Zugang:	Inhaltstext
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