Influence of copper content on grain growth in vapor deposited al(cu) thin films

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Koester, U. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ho, P. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1986
Schriftenreihe:Research reports / IBM RC 11843
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