Logic test pattern generation using linear codes

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Tang, D. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Chen, C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1982
Schriftenreihe:	Research reports / IBM RC 9722
Schlagworte:	Bericht
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