Exhaustive bit pattern generation in discontiguous positions, with applications to VLSI self-testing

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Barzilai, Z. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Coppersmith, D. (VerfasserIn), Rosenberg, A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1981
Schriftenreihe:	Research reports / IBM RC 8750
Schlagworte:	Bericht
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