A straightforward technique for producing minimal multiple fault test sets for fanout-free combinational circuits

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Markowsky, George (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Yorktown Heights IBM Thomas J. Watson Research Center Computer Science Department 1976
Schriftenreihe:	Research reports / IBM RC 6222
Schlagworte:	Bericht
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