Technology, measurement & analysis proceedings of the Second International Airborne Remote Sensing Conference and Exhibition, 24 - 27 June 1996, San Francisco, California, USA Vol. 2

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Environmental Research Institute of Michigan (BerichterstatterIn), International Airborne Remote Sensing Conference and Exhibition (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Ann Arbor, Mich. Environmental Research Institute of Michigan 1996
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Beschreibung
Beschreibung:XXIX, 745 S