Stress-induced phenomena in metallization third international workshop, Palo Alto, CA, June 1995

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Ho, Paul S. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Woodbury, NY AIP Press 1996
Schriftenreihe:	CONF 9506336
Schlagworte:	Konferenzschrift > Forschungsbericht > Werkstoff > Metallisieren > Spannungsanalyse > Elektromigration
Online Zugang:	Abstracts
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