Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors

Zugl.: Hamburg, Univ., FB Physik, Diss., 1996

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Böttcher, Stephan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Hamburg DESY 1996
Schriftenreihe:	Internal Report / DESY F35D 96-12
Schlagworte:	Hochschulschrift > Forschungsbericht
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!