Testing and testable design of high-density random-access memories

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Mazumder, Pinaki (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Chakraborty, Kanad (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston, Dordrecht, London u.a. Kluwer 1996
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing
Schlagworte:	Random access memory > Testing > Memory (Computers) > RAM > Entwurf > Testbarkeit > Prüftechnik
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