Testing and testable design of high-density random-access memories

Testing and testable design of high-density random-access memories

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mazumder, Pinaki (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Chakraborty, Kanad (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Boston, Dordrecht, London u.a. Kluwer 1996
Schriftenreihe:Frontiers in electronic testing
Schlagworte:
Random access memory > Testing > Memory (Computers) > RAM > Entwurf > Testbarkeit > Prüftechnik
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Beschreibung
Beschreibung:Bibliography: p. 367-381. - Includes index
Beschreibung:XXXVIII, 386 S
graph. Darst
25 cm
ISBN:0792397827
0-7923-9782-7