Oxidation induced degradation of reverse characteristics of silicon diodes

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Fuller, Clyde R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Baird, Stephen S. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Detroit, Mich. Electrochemical Soc 1961
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