Proceedings / 14th IEEE VLSI Test Symposium, April 28 - May 1, 1996, Princeton, New Jersey

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	VLSI Test Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society Press 1996
Schlagworte:	Konferenzschrift > VLSI
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