Proceedings / 14th IEEE VLSI Test Symposium, April 28 - May 1, 1996, Princeton, New Jersey

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society Press 1996
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE order plan number 96TB100043. IEEE Computer Society Press order number PR07304
Beschreibung:XXIX, 510 S
graph. Darst
ISBN:0818673060
0-8186-7306-0
0818673044
0-8186-7304-4