In-situ Raster-Sonden-Methoden zur Charakterisierung von passivierbaren Metalloberflächen topographische und spektroskopische Untersuchungen der Passivierung an Eisen und austenitischen Stählen mittels in-situ STM und AFM

Zürich, Eidgen. Techn. Hochsch., Diss., 1995

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schreyer, André René (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1995
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schriftenreihe:Dissertation. ETH Zürich No. 11216
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zürich, Eidgen. Techn. Hochsch., Diss., 1995
Beschreibung:Mikrofiche-Ausg.: 1995. 2 Mikrofiches : 24x
Beschreibung:III, 163 S
graph. Darst