Limitations of Built-In Current Sensors (BICS) for IDDQ testing
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Fort Collins, Colo.
Colorado State Univ.
1993
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| Schriftenreihe: | Technical report / Department of Computer Science, Colorada State University
93-121 |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | 13 Bl |
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