Modulated scanning-Kelvin-microscope for quantitative contact potential difference measurement with lateral resolution

Neubiberg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1996

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ren, Jianxin (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1995
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Neubiberg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1996
Beschreibung:123 S
Ill., graph. Darst
21 cm