Defect recognition and image processing in III-V compounds II proceedings of the Second International Symposium in Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in three to five Compounds (BerichterstatterIn), International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Weber, Eicke R. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 1987
Schriftenreihe:	Materials science monographs 44
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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