Physical measurement and analysis of thin films

Literaturangaben

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Eastern Analytical Symposium (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Murt, E. M. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York Plenum Press 1969
Schriftenreihe:	Progress in analytical chemistry 2
Schlagworte:	Konferenzschrift
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