Certified Robust Models with Slack Control and Large Lipschitz Constants

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:DAGM German Conference on Pattern Recognition (45. : 2023 : Heidelberg) Pattern recognition
1. Verfasser: Losch, Max (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Stutz, David (VerfasserIn), Schiele, Bernt (VerfasserIn), Fritz, Mario (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2024
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Beschreibung
ISBN:9783031546044