Unveiling Sub-60 mV/decade Subthreshold Swing in The Oxide Local Thinning (OLT) Gated MIS Tunnel Diodes by TCAD Simulations

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium "Silicon Compatible Emerging Materials, Processes, and Technologies for Advanced CMOS and Post-CMOS Applications" (14. : 2024 : San Francisco, Calif.) Silicon Compatible Emerging Materials, Processes, and Technologies for Advanced CMOS and Post-CMOS Applications 14
1. Verfasser:	Huang, S. W. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lin, J. Y. (VerfasserIn), Hwu, J. G. (VerfasserIn)
Pages:	14
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:
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