METHOD FOR EVALUATION OF HALF-VALUE LAYERS CALCULATED FROM X-RAY-SPECTROSCOPY FOR COMPUTED TOMOGRAPHY

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Radiation detectors and their uses
1. Verfasser:	Matsumoto, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Nishimatsu, E. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2011
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Beschreibung
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