Cumulative Damage Calculation, Life Prediction of Switching Device MOSFET for Charging Pile

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium on High Voltage Engineering (22. : 2021 : Xi'an; Online) 22nd International Symposium on High Voltage Engineering (ISH 2021) ; Volume 3 of 3
1. Verfasser:	Chen, Xi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Liu, Xiulan (VerfasserIn), Jin, Yuan (VerfasserIn), Cheng, Lin (VerfasserIn), Dai, Jiangang (VerfasserIn), Zhu, Lingyu (VerfasserIn), Liu, Zhanlei (VerfasserIn), Ji, Shengchang (VerfasserIn)
Pages:	22
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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