Structural Study for Ge Nanowires on Si(113) by Grazing Incidence X-ray Scattering

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Omote, Kazuhiko (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kawamura, Tomoaki (VerfasserIn), Omi, Hiroo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2006
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