Investigation of Dislocations in 6H-SiC Axial Samples Using Synchrotron X-Ray Topography and Ray Tracing Simulation

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium "Gallium Nitride and Silicon Carbide Power Technologies" (Veranstaltung : 11. : 2021 : Online) Gallium Nitride and Silicon Carbide Power Technologies 11
1. Verfasser:	Peng, H. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Liu, Y. (VerfasserIn), Ailihumaer, T. (VerfasserIn), Raghothamachar, B. (VerfasserIn), Dudley, M. (VerfasserIn), Sampayan, K. (VerfasserIn), Sampayan, S. (VerfasserIn)
Pages:	11
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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