Multiple-beam interferometry of surfaces and films

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Tolansky, Samuel (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Oxford Clarendon Pr. 1948
Schriftenreihe:	Monographs on the physics and chemistry of materials 1
Schlagworte:
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Beschreibung
Beschreibung:	VIII, 187 S. Ill., graph. Darst.