Development of Beam Intensity Monitors for Intense Undulator X-Rays in SPring-8

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Itoh, T. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kishi, N. (VerfasserIn), Shin, K. (VerfasserIn), Taniguchti, S. (VerfasserIn), Nariyama, N. (VerfasserIn), Ban, S. (VerfasserIn), Namito, Y. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2001
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