Scanning probe methods and near field microscopies proceedings of the 2nd CFMCP Meeting, July 4 - 6, 1994, Aix en Provence, France

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Cercle Français des Microscopies à Champ Proche (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Dumas, P. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Les Ulis Ed. de Physique 1994
Schriftenreihe:	Microscopy, microanalysis, microstructures 5.1994,4/6
Schlagworte:	Konferenzschrift
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