Multi-Level Wavelet Mapping Correlation for Statistical Dependence Measurement: Methodology and Performance

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:AAAI Conference on Artificial Intelligence (37. : 2023 : Washington, DC; Online) 37th AAAI Conference on Artificial Intelligence (AAAI-23) ; Volume 5, part 2 of 2
1. Verfasser: Ren, Yixin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Zhang, Hao (VerfasserIn), Xia, Yewei (VerfasserIn), Guan, Jihong (VerfasserIn), Zhou, Shuigeng (VerfasserIn)
Pages:37
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2023
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Beschreibung
ISBN:9781713878155