Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

Testability concepts for digital ICs the macro test approach

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Beenker, Frans P. M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bennetts, R. G. (BerichterstatterIn), Thijssen, A. P. (BerichterstatterIn), Thijssen, A. P. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Dordrecht u.a. Kluwer Acad. c1995
Schriftenreihe:Frontiers in electronic testing 3
Schlagworte:
Digital integrated circuits > Testing > Automatic test equipment > Digitale integrierte Schaltung > Prüfung
Online Zugang:Publisher description
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references (p. 197-205)
Beschreibung:ix, 212 p
ill
25 cm
ISBN:0792396588
0-7923-9658-8