Assessment of the Quality of Raw Measurement from Samsung SOC GNSS Chip and Analysis of Positioning Accuracy Using PPP

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Institute of Navigation (USA) (2022 : Long Beach, Calif.) Institute of Navigation International Technical Meeting (ITM 2022) ; Volume 2 of 2
1. Verfasser:	Cho, Bogeun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kim, Bu-Gyeom (VerfasserIn), Kim, Jong Heon (VerfasserIn), Kee, Changdon (VerfasserIn), Kim, Sunkyoung Yu. O-Jong (VerfasserIn), Kim, Jungbeom (VerfasserIn)
Pages:	2022
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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