Infrared Spectroscopy Study of Edge Water Penetration at Hydrophilic Bonding Interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Symposium on Semiconductor Wafer Bonding: Science, Technology and Applications (17. : 2023 : Göteborg) Semiconductor Wafer Bonding: Science, Technology and Applications 17
1. Verfasser: Noël, P. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Larrey, V. (VerfasserIn), Morales, C. (VerfasserIn), Rieutord, F. (VerfasserIn), Landru, D. (VerfasserIn), Fournel, F. (VerfasserIn)
Pages:17
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2023
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Beschreibung
ISBN:9781713880158